Imagerie  et analyse des propriétés mécaniques et électriques locales

Cette thématique de recherche vise à étudier des propriétés électriques et mécaniques de systèmes à l'échelle submicronique (nanosystêmes, nanocomposants, matériaux et systêmes biologiques), en vue de leur utilisation dans les " nanomachines ".
Les mesures permettent de visualiser et de cartographier, en ce qui concernent les propriétés électriques et entre autres, les potentiels de surface, les différences de travaux de sortie (ou affinité électronique), les charges piégées, les courants, et les capacités. Concernant les propriétés mécaniques, ce sont entre autres l'élasticité, la viscosité et l'adhésion.
Ces nanocaractérisations se font en milieu ambiant, liquide ou sous vide, par microscopie à champ proche.
Cette thématique participe à la Plate-forme Champ Proche de l'UM2 (vers laquelle il devra y avoir un lien, je n'ai pas l'adresse pour l'instant)

Contacts :
bonnet@lain.univ-montp2.fr
girard@lain.univ-montp2.fr

Equipe Nanotechnologie et Nanophysique du LAIN:
http://www.lain.univ-montp2.fr

Participants :
Richard Arinero, en thèse
Jacques Bonnet, professeur
Philippe Cadet, en thèse
Jean-François Carlotti, en thèse
Gérard Cohen-Solal, professeur
Hervé Dongmo, en thèse
Paul Girard, chargé de recherche
Cathy Guasch, maître de conférence
Gérard Lévêque, professeur
Jean-Rémy Reboul, en thèse
Eric Renault, ingénieur
Jacques Touret, technicien